Okładka książki - Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych


Ocena: 0 (0 głosów)
Publikacja zawiera materiały na IX Krajową Konferencję z cyklu ?Diagnostyka Edukacyjna?, Łódź, wrzesień 2003 roku.W części teoretycznej zamieszczone są teksty przekazujące nową wiedzę o problematyce pomiaru,porządkującą pojęcia oraz dające przykłady modeli i metod badawczych. W części szczegółowej materiały koncentrują się wokół zagadnień trafności egzaminowania, motywacji ucznia i etyki egzaminatora.

Informacje dodatkowe o Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych:

Wydawnictwo: brak danych
Data wydania: b.d
Kategoria: Edukacyjne
ISBN: 838781492X
Liczba stron: 396

więcej

Kup książkę Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych

Sprawdzam ceny dla ciebie ...
Cytaty z książki

Na naszej stronie nie ma jeszcze cytatów z tej książki.


Dodaj cytat
REKLAMA

Zobacz także

Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych - opinie o książce

Recenzje miesiąca Pokaż wszystkie recenzje
Reklamy